Резонансная установка для определения кинетики структурообразования материалов при положительных и отрицательных температурах

Формула / Реферат

Резонансная установка предназначена для определения кинетики структурообразования при твердении вяжущих материалов, например цемента, находящихся в условиях положительных и отрицательных температур.
Для определения с высокой точностью кинетики структурообразования вяжущих материалов в условиях замораживания и оттаивания в установке вместо генератора колебаний звуковой частоты с лимбом, индикатора резонанса и частотомера использован персональный компьютер с аналого-цифровым и цифро-аналоговым преобразователями.
Резонансная установка для определения кинетики структурообразования материалов при положительных, отрицательных температурах и последующем оттаивании позволяет оценить влияние различных физических, физико-химических и механических способов воздействия на структуру вяжущих материалов при использовании последних в зимних условиях с наименьшими затратами труда и времени и с высокой точностью.

МПК / Метки

МПК: G01N 29/00

Метки: положительных, резонансная, определения, температурах, установка, кинетики, отрицательных, материалов, структурообразования

Код ссылки

<a href="http://kzpatents.com/0-pp11046-rezonansnaya-ustanovka-dlya-opredeleniya-kinetiki-strukturoobrazovaniya-materialov-pri-polozhitelnyh-i-otricatelnyh-temperaturah.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Резонансная установка для определения кинетики структурообразования материалов при положительных и отрицательных температурах</a>

Похожие патенты