Резонансная установка для определения кинетики структурообразования матералов при положительных и отрицательных температурах

Формула / Реферат

Резонансная установка предназначена для определения кинетики структурообразования при твердении вяжущих материалов, например цемента, находящихся в условиях положительных и отрицательных температур.
Для определения кинетики структурообразования вяжущих материалов в условиях замораживания и оттаивания кювета с исследуемым содержимым помещается в камеру, оборудованную системой охлаждения и устройством по автоматическому поддержанию требуемой температуры.
Резонансная установка для определения кинетики структурообразования материалов при положительных, отрицательных температурах и последующем оттаивании позволяет оценить влияние различных физических, физико-химических и механических способов воздействия на структуру вяжущих материалов при использовании последних в зимних условиях.

МПК / Метки

МПК: G01N 29/00, G01N 33/28

Метки: структурообразования, матералов, кинетики, установка, положительных, резонансная, определения, отрицательных, температурах

Код ссылки

<a href="http://kzpatents.com/0-pp8023-rezonansnaya-ustanovka-dlya-opredeleniya-kinetiki-strukturoobrazovaniya-materalov-pri-polozhitelnyh-i-otricatelnyh-temperaturah.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Резонансная установка для определения кинетики структурообразования матералов при положительных и отрицательных температурах</a>

Похожие патенты