Способ рентгенофлуоресцентного анализа

Номер патента: 2955

Опубликовано: 15.12.1995

Авторы: Попов Александр Михайлович, Князев Борис Борисович

Есть еще 5 страниц.

Смотреть все страницы или скачать PDF файл.

Формула / Реферат

Способ рентгенофлуоресцентного анализа, включающий возбуждение в гробе флуоресцентного излучения определяемого элемента и измерение его интенсивности, которые производят последовательно на двух пробах одного химического состава, одна из которых приготовлена в виде слоя, являющегося ненасыщенным для флуоресцентного излучения определяемого элемента, отличающийся тем, что с целью повышения точности анализа, дополнительно возбуждают флуоресцентное излучение определяемого элемента в третьей пробе, образованной размещением указанных проб одна на другой, измеряют его интенсивность и интенсивность некогерентнорассеянного излучения от каждой пробы, при этом вторую пробу также как и первую приготавливают в виде слоя, являющегося ненасыщенным для флуоресцентного излучения определяемого элемента, а содержание определяемого элемента вычисляют по соотношению:
где Са - содержание определяемого элемента;
Ni1, Ns2 - интенсивности флуоресцентного излучения определяемого элемента и некогерентно рассеянного излучения от первой пробы;
Ni2, Ns2 - интенсивности флуоресцентного излучения определяемого элемента и некогерентно рассеянного излучения от второй пробы;
Ni12, Ns12 - интенсивности флуоресцентного излучения определяемого элемента и некогерентно рассеянного излучения от третьей пробы;
К - коэффициент пропорциональности.

Текст

Смотреть все

ПВИГОТОВЛЭННОЙ В виде СЛОЯ, НВЛШЦЦЗГОСЯ ненесьлдеългъм ЩЪЯ ЕШУОЭЭСЦВНТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОГЮЗЦШШЗЪЮЮ ЭЛЕМЕНТЫМг интенсивность рентгеновской фтуорещещш, зарегистрированной от пробы,приготовленной в виде слоя, являющегося насыщенным для флуоресцентного излучения оггределяемого алеълента41 - велиъмна поверхностной плотности пробы, приготовленной в виде слоя, являщегося ненасыщенньм для флуоресцентного излучения определяемого алемента, определяемая при помощи взвешивания.н нецостатчшм способа относится необходимость приготовления двух разных навесок проб /2 с. 27 З/.При приготовлении проб с наглым значениями величины поверхностной плотности/тО 1-03 г/смг/ обычны способом возможны значъггельъгьпе колебания велисшньпш по площади наветы, в которой находится проба /по нашим оценкам - не менее 2,5-3/ значительно превншаголлю погрешность взвешивания пробы при проведении иалерений оогласно /2/.Так как значениеш в явном вице входит в аналитическое выражение /1/ то погрелшость в определении СА будет в основном определяться вариацией ветчины тпо пло щади клеветы, в которой находится гроба.Целно изобретения является повьллех-ме точности анализа.Поставленная цель достигается тем, что в способе рентгенофггуоресгцентного ана 2955 4лизе, вюлочающем возбуддеъме в пробе флуоресцентного излучения огределяемого алемента и иээлерение его интенсивности, которые производят последовательно в двух пробах одного химического состава, одна из которых приготовлена в виде слоя, являющегося ненасыщенным для флуоресцентного излучения определяемого элемента, согласно изобретению дополнительно возбуддагот флуоресцентное излучение определяемого элемента в третьей пробе, образованной размещением указанных проб одна на другой, измеряют его интенсивность и интенсивность некорегентно рассеянного излучения от шляпой пробы, при этом вторую пробу также как и первую приготавливают в виде слоя, являющегося ненаелценъьм для флуоресцентного излучения определяемого элемента, а содер ШЗНИЭ ОПРЭДЭЛЯЗМОЮ ЗПЭМЭНТЭ. ВЫЧИСЛИЛ ПО ОООТНОШЭЪМОЗмг мы - угнтенсглвности флуоресцентного излучения определяемого элемента и нензогерентно рассеянного излучения от первой пробыд д 2, на - интенсивности флуоресцентного излучения определяемого элемента и некогерентно рассеянного излучения от второй пробыД 12, МЫЗ - ИНТВНСИВНОСТИЭНЧН 0 ГО ИЗЛУЧЭШШ ОЩЗЗЦЭЛЯЫЮЮ элемента И НВКОГЭБВНТНО рассеянного ИЗПУЧЭШШ ОТ третьей ПШЫЗК козфтигмент пропорциональности. Если пробу, приготовленную в вице двух слоев с поверхностной плотностью т 1и тг облучать потоком гемма- или рентгеновских квантов, то интенсивность рентгеневской фпуоресцешум для каждой из проб можно описать известным выражением /2/где ддд , дд- - массовые коэффициенты ослабления первичного и флуоресцентного излучения в пробеил Интенсивность РЭНТГНОВСОЙеНЦУМУЮПВЯ НЗСЫ ЩЭННОМУ СЛОЮ / П дао/Зд . интенсивность рентгеновской флуоресценции от пробы с повершюстной м 1 . гшотностью т 1, М 2 - гантенсивность рентгеновской српуоресцешшм от пробы с поверхностной плотностью т 2.Для третьей пробы, образованной из уяезанньж проб с т 1 и тг, расположет ных одна на другой, интенсивность рентгеновской фгшорещешш будет описыватьсягде м 12 - штенсивность рентгеновской фатуорещешш от пробы, приготовленной в виде слоя с вешмшнои поверхностной плотности тю п нНа основании ВЬЮЗШЭНИЙ /7/ ЬЮШНО ЗЗПИСЗТЬ спец/шееощща, с учетом выражения /9/, можно получить соотношение для интенсивности рент геновсной флуоресценции, соответствующее насьшленному для флуоресцентного излучения определяемого элемента слою, куда входят только измеряемые величины штенсивностей д 12 111/ 11 ш 2 612 Выражение /1 О/ с помощью соотношения /11/ гкреобразуется к слещлогцему виду д/т 4 т 2/1(1153 Ж 1-112 112/ 111 М 2 Так ввек зависимость интенсивности неюогерентно рассеянного излучения от поглощахоших свойств пробы аналогична зависимости для интенсивности рентгеновской флуоресценции /5/, то в случае ненорегентного рассеяния глмеем З 1 Ь 2 дз/ 2131 дзг 12

МПК / Метки

МПК: G01N 23/223

Метки: способ, рентгенофлуоресцентного, анализа

Код ссылки

<a href="http://kzpatents.com/13-2955-sposob-rentgenofluorescentnogo-analiza.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ рентгенофлуоресцентного анализа</a>

Похожие патенты