G11C 29/00 — Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы

Тестирование содержимого памяти

Номер предварительного патента: 7945

Опубликовано: 16.08.1999

Автор: КИЗ Эдвард Патрик

МПК: G11C 29/00

Метки: содержимого, тестирование, памяти

Формула / Реферат:

Способ тестирования памяти, объединенной с микропроцессором, применяемый, например, для использования в интеллектуальных платах.Достигаемый технический результат - повышение надежности защиты и работы устройства.Способ включает сравнение выходной информации из памяти 2, подаваемой по каналу чтения 10 с сигналами предварительно заданных данных, генерируемых извне и подаваемых через порт 7 по каналу чтения 9. Сравнение осуществляют устройством...