Пузеева Марина Петровна

Способ определения прогнозных запасов железных руд магнетитовых месторождений

Загрузка...

Номер инновационного патента: 20840

Опубликовано: 16.02.2009

Авторы: Юров Виктор Михайлович, Портнов Василий Сергеевич, Пузеева Марина Петровна

МПК: G01N 27/76

Метки: определения, прогнозных, способ, железных, запасов, руд, магнетитовых, месторождений

Формула / Реферат:

Изобретение относится к оценке запасов минерального сырья, а именно к определению запасов железа магнетитовых месторождений.Заявленным способом предусматривается измерение магнитной восприимчивости железных руд любым методом магниторазведки и, затем, расчет дифференцированных запасов по предложенной формуле. Зная геометрию месторождения, от дифференцированных запасов переходим к общим запасам железа месторождения.Реализация предлагаемого...

Способ измерения поверхностного натяжения магнитных материалов

Загрузка...

Номер инновационного патента: 20584

Опубликовано: 15.12.2008

Авторы: Юров Виктор Михайлович, Портнов Василий Сергеевич, Пузеева Марина Петровна

МПК: G01N 27/76

Метки: поверхностного, способ, измерения, натяжения, магнитных, материалов

Формула / Реферат:

Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения в магнитных материалах, перспективных для использования в различных областях техники.Заявленным способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости магнитной воспри-имчивости от размера частиц магнитного материала. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять поверхностное...

Способ измерения поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков

Загрузка...

Номер инновационного патента: 20583

Опубликовано: 15.12.2008

Авторы: Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна, Портнов Василий Сергеевич

МПК: G01N 27/76

Метки: способ, плотности, диэлектриков, натяжения, состояний, поверхностного, измерения, поверхностных

Формула / Реферат:

Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков, перспективных для использования в различных областях техники.Способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости диэлектрической проницаемости от толщины пленки диэлектриков. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять...