Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества
Формула / Реферат
Изобретение относится к элементному анализу вещества и может быть использовано в различных областях промышленности. Задачей изобретения является обеспечение универсальности проводимых рентгенофлуоресцентных измерений, снижение предела обнаружения при наличии мешающих элементов и повышение контрастности аналитических линий для проб с произвольным расположением облучаемой поверхности: сверху или снизу. Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества, включающее источник рентгеновского излучения, полупроводниковый Si-PIN детектор с коллиматором и прободержатель для установки кювет с пробой, согласно изобретению, снабжено вторым рентгеновским излучателем, обеспечивающим облучение пробы через сменную вторичную мишень, и коммутатором для последовательного перехода от одного рентгеновского излучателя к другому, при этом рентгеновские излучатели, сменная вторичная мишень, полупроводниковый Si-PIN детектор с коллиматором и прободержатель объединены в модуль, установленный с возможностью поворота на 180° относительно оси, параллельной оси второго рентгеновского излучателя, для осуществления перехода от кювет с верхней облучаемой поверхностью проб к кюветам с нижней облучаемой поверхностью пробы, ограниченной тонкой полимерной пленкой.
МПК / Метки
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, устройство, рентгенофлуоресцентного, анализа
Код ссылки
<a href="https://kzpatents.com/0-pp13936-ustrojjstvo-dlya-rentgenofluorescentnogo-analiza-veshhestva.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества</a>
Пробоподающее устройство для спектрометра рентгенофлуоресцентного анализа
Номер полезной модели: 109
Опубликовано: 15.09.2003
Автор: Петров Валерий Александрович
МПК: G01N 23/083
Метки: устройство, рентгенофлуоресцентного, пробоподающее, спектрометра, анализа
Формула / Реферат:
Полезная модель относится к области анализа химического состава различных материалов и может быть использована в рентгеноспектральных приборах, работающих в различных областях перерабатывающей и добывающей промышленности, в том числе для спектрометров, работающих в режиме экспресс-анализа руд и продуктов их технологической переработки. Технический результат полезной модели - обеспечение возможности легкого доступа к механизму и датчикам привода...
Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества
Номер предварительного патента: 13458
Опубликовано: 15.09.2003
Автор: Петров Валерий Александрович
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, анализа, устройство, рентгенофлуоресцентного
Формула / Реферат:
Изобретение относится к элементному анализу вещества и может найти применение в геологии, металлургии, в перерабатывающих областях промышленности, где требуется определение малых содержаний элементов. Достигаемым техническим результатом является, наряду со снижением фона на энергетических спектрах, повышение светосилы устройства и уменьшение времени анализа. В изобретении это осуществляется за счет использования рентгеновской трубки с двумя...
Устройство для рентгенорадиометрического анализа вещества
Номер предварительного патента: 8859
Опубликовано: 14.04.2000
Авторы: Сулейменов Болатхан Еркешевич, Калинин Владимир Гурьевич, Ким Ратмир Иннокентьевич, Цой Самен Викторович
МПК: G01T 1/00
Метки: рентгенорадиометрического, устройство, анализа, вещества
Формула / Реферат:
Èçîáðåòåíèå предназначено для возбуждения и регистрации К и L-серий характеристического и однократнорассеянного рентгеновского излучения при определении содержания химических элементов с атомными номерами более 13 (алюминий), если содержание этих элементов в анализируемом веществе превышает порог чувствительности ìåòîäà.Технический результат изобретения - создание портативного устройства, возможность проведения анализа кусковатых,...
Способ рентгенофлуоресцентного анализа
Номер патента: 2955
Опубликовано: 15.12.1995
Авторы: Князев Борис Борисович, Попов Александр Михайлович
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, способ, рентгенофлуоресцентного
Формула / Реферат:
Способ рентгенофлуоресцентного анализа, включающий возбуждение в гробе флуоресцентного излучения определяемого элемента и измерение его интенсивности, которые производят последовательно на двух пробах одного химического состава, одна из которых приготовлена в виде слоя, являющегося ненасыщенным для флуоресцентного излучения определяемого элемента, отличающийся тем, что с целью повышения точности анализа, дополнительно возбуждают флуоресцентное...
Способ ядерно-физического анализа сыпучих материалов
Номер предварительного патента: 13937
Опубликовано: 15.01.2004
Авторы: Петрова Евгения Викторовна, Петров Валерий Александрович
МПК: G01N 23/223
Метки: способ, ядерно-физического, материалов, сыпучих, анализа
Формула / Реферат:
Изобретение относится к способам анализа вещества и может найти применение в горнорудной, горнодобывающей и перерабатывающей областях промышленности. Техническим результатом изобретения является применение способа исследования в тонком слое для сыпучих материалов и снижение предела обнаружения определяемых элементов в таких материалах. Это достигается за счет того, что облучение пробы исследуемого материала, находящейся на дискообразном дне...
Предыдущий патент: Факельная горелка
Следующий патент: Прибор для измерения растяжения теста
Случайный патент: Подшипник скольжения-качения