Пузеева Марина Петровна
Способ определения прогнозных запасов железных руд магнетитовых месторождений
Номер инновационного патента: 20840
Опубликовано: 16.02.2009
Авторы: Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна, Портнов Василий Сергеевич
МПК: G01N 27/76
Метки: запасов, определения, магнетитовых, способ, месторождений, прогнозных, железных, руд
Формула / Реферат:
Изобретение относится к оценке запасов минерального сырья, а именно к определению запасов железа магнетитовых месторождений.Заявленным способом предусматривается измерение магнитной восприимчивости железных руд любым методом магниторазведки и, затем, расчет дифференцированных запасов по предложенной формуле. Зная геометрию месторождения, от дифференцированных запасов переходим к общим запасам железа месторождения.Реализация предлагаемого...
Способ измерения поверхностного натяжения магнитных материалов
Номер инновационного патента: 20584
Опубликовано: 15.12.2008
Авторы: Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна, Портнов Василий Сергеевич
МПК: G01N 27/76
Метки: натяжения, материалов, поверхностного, магнитных, способ, измерения
Формула / Реферат:
Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения в магнитных материалах, перспективных для использования в различных областях техники.Заявленным способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости магнитной воспри-имчивости от размера частиц магнитного материала. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять поверхностное...
Способ измерения поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков
Номер инновационного патента: 20583
Опубликовано: 15.12.2008
Авторы: Портнов Василий Сергеевич, Пузеева Марина Петровна, Юров Виктор Михайлович
МПК: G01N 27/76
Метки: диэлектриков, состояний, натяжения, способ, плотности, измерения, поверхностных, поверхностного
Формула / Реферат:
Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков, перспективных для использования в различных областях техники.Способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости диэлектрической проницаемости от толщины пленки диэлектриков. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять...