Пузеева Марина Петровна
Способ определения прогнозных запасов железных руд магнетитовых месторождений
Номер инновационного патента: 20840
Опубликовано: 16.02.2009
Авторы: Портнов Василий Сергеевич, Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна
МПК: G01N 27/76
Метки: железных, месторождений, руд, магнетитовых, запасов, способ, прогнозных, определения
Формула / Реферат:
Изобретение относится к оценке запасов минерального сырья, а именно к определению запасов железа магнетитовых месторождений.Заявленным способом предусматривается измерение магнитной восприимчивости железных руд любым методом магниторазведки и, затем, расчет дифференцированных запасов по предложенной формуле. Зная геометрию месторождения, от дифференцированных запасов переходим к общим запасам железа месторождения.Реализация предлагаемого...
Способ измерения поверхностного натяжения магнитных материалов
Номер инновационного патента: 20584
Опубликовано: 15.12.2008
Авторы: Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна, Портнов Василий Сергеевич
МПК: G01N 27/76
Метки: натяжения, измерения, поверхностного, способ, материалов, магнитных
Формула / Реферат:
Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения в магнитных материалах, перспективных для использования в различных областях техники.Заявленным способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости магнитной воспри-имчивости от размера частиц магнитного материала. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять поверхностное...
Способ измерения поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков
Номер инновационного патента: 20583
Опубликовано: 15.12.2008
Авторы: Портнов Василий Сергеевич, Юров Виктор Михайлович, Пузеева Марина Петровна
МПК: G01N 27/76
Метки: плотности, состояний, поверхностных, поверхностного, способ, диэлектриков, натяжения, измерения
Формула / Реферат:
Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения и плотности поверхностных состояний диэлектриков, перспективных для использования в различных областях техники.Способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости диэлектрической проницаемости от толщины пленки диэлектриков. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять...